Pagtuki sa microstructure ug pagtimbang-timbang sa mga materyales sa semiconductor
Pagpaila sa Serbisyo
Uban sa padayon nga pag-uswag sa dagkong mga integrated circuit, ang proseso sa paghimo sa chip nahimong labi ka komplikado, ug ang abnormal nga microstructure ug komposisyon sa mga semiconductor nga materyales nakababag sa pag-uswag sa ani sa chip, nga nagdala og dagkong mga hagit sa pagpatuman sa bag-ong semiconductor ug integrated. mga teknolohiya sa sirkito.
Ang GRGTEST naghatag komprehensibo nga semiconductor material microstructure analysis ug evaluation aron matabangan ang mga kustomer nga mapaayo ang semiconductor ug integrated circuit nga mga proseso, lakip ang pag-andam sa wafer level profile ug electronic analysis, komprehensibo nga pag-analisa sa pisikal ug kemikal nga mga kabtangan sa semiconductor manufacturing related nga mga materyales, pagporma ug pagpatuman sa semiconductor material contaminant analysis. programa.
Sakop sa serbisyo
Mga materyales nga semiconductor, organikong gamay nga molekula nga materyales, polymer nga materyales, organiko/inorganic nga hybrid nga materyales, dili organikong non-metallic nga materyales
Serbisyo nga programa
1. Pag-andam sa profile sa lebel sa chip wafer ug pag-analisa sa elektronik, base sa naka-focus nga teknolohiya sa ion beam (DB-FIB), tukma nga pagputol sa lokal nga lugar sa chip, ug real-time nga electronic imaging, makuha ang istruktura sa profile sa chip, komposisyon ug uban pa importante nga impormasyon sa proseso;
2. Komprehensibo nga pag-analisar sa pisikal ug kemikal nga mga kabtangan sa mga materyales sa paghimo sa semiconductor, lakip ang mga organikong polymer nga materyales, gagmay nga molekula nga mga materyales, dili organikong non-metallic nga mga materyales nga pagtuki sa komposisyon, pagtuki sa istruktura sa molekula, ug uban pa;
3. Pagporma ug pagpatuman sa plano sa pagtuki sa kontaminant alang sa mga materyales nga semiconductor.Makatabang kini sa mga kustomer nga hingpit nga masabtan ang pisikal ug kemikal nga mga kinaiya sa mga hugaw, lakip ang: pag-analisar sa komposisyon sa kemikal, pagtuki sa sulud sa sangkap, pagtuki sa istruktura sa molekula ug uban pang pagtuki sa pisikal ug kemikal nga mga kinaiya.
Mga butang sa serbisyo
| Serbisyomatang | Serbisyomga butang |
| Pag-analisar sa komposisyon sa elemento sa mga materyales sa semiconductor | l EDS elemental analysis, l X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) elemental analysis |
| Pag-analisar sa istruktura sa molekula sa mga materyales sa semiconductor | l FT-IR infrared spectrum analysis, l X-ray diffraction (XRD) spectroscopic analysis, l Nuclear magnetic resonance pop Analysis (H1NMR, C13NMR) |
| Pag-analisar sa microstructure sa mga materyales sa semiconductor | l Doble nga naka-focus nga ion beam (DBFIB) slice analysis, l Field emission scanning electron microscopy (FESEM) gigamit sa pagsukod ug pag-obserbar sa microscopic morphology, l Atomic force microscopy (AFM) para sa obserbasyon sa morpolohiya sa ibabaw |
